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FDJ局部放電檢測儀是按照DL/T846.4-2004《高電壓測試設(shè)備通用技術(shù)條件》、GB/T 7354-2003《局部放電測量》開發(fā)的， 產(chǎn)品參考標(biāo)準(zhǔn)：IEC 61730:2-2004"局部放電試驗(yàn)"，用于晶體硅組件TPT背膜檢測。

一、功能特點(diǎn)

1、測量功能：可檢測局部放電幅值、極性、相位、放電起始電壓、熄滅電壓、次數(shù)等相關(guān)參數(shù)。

2、同步功能：內(nèi)、外同步任意選擇，且具有零標(biāo)指示和相位分辨功能。

3、顯示方式：可選擇橢圓、直線、正弦及二維、三維等界面顯示局部放電信號，可直觀的分析測試過程中信號的頻率、相位、幅度以及試驗(yàn)電壓之間的相互關(guān)系。

4、局部放大：可對單個(gè)或某一段放電信號進(jìn)行波形分析，確定信號的性質(zhì)。

5、同步消隱：在配合阻抗單元和耦合電容的情況下，可對來自地網(wǎng)、試驗(yàn)電源和試驗(yàn)現(xiàn)場空間的干擾進(jìn)行同步濾除。

6、極性鑒別：可通過放電信號的脈沖極性區(qū)分，是試品內(nèi)部，還是外部的放電，有效去除外部干擾。

7、頻譜分析：基于FFT算法實(shí)現(xiàn)的頻譜分析與FIR數(shù)字濾波功能。

8、增益可調(diào)：在量程切換跨度內(nèi)，實(shí)現(xiàn)增益連續(xù)可調(diào)。

9、保存打印：可保存單次放電的數(shù)據(jù)，也可記錄一段時(shí)間的局部放電圖形及相關(guān)參數(shù)，保存的數(shù)據(jù)可回放和重現(xiàn)方便后期分析。對單次放電的數(shù)據(jù)提供打印功能。

二、技術(shù)指標(biāo)

  1、測量通道：獨(dú)立通道；

  2、檢測靈敏度：0.5pC；

  3、采樣精度：12位；

  4、采樣速率：12.5m/s；

  5、測量范圍：0.5pC～1μC；

  6、量程線性度誤差：優(yōu)于±5%；

  7、量程切換：／10、×1、×10、×100；

  8、試品電容量范圍：6pF~250μF；

  9、測量頻帶：10kHz~1MHz；

  10、程控濾波：

          低端頻率：20kHz，40kHz，60kHz，80kHz；

          高端頻率：100kHz，200kHz，300kHz，400kHz；

          數(shù)字濾波：10kHz~1MHz可選；

  11、試驗(yàn)電源頻率：30~300Hz；

  12、工作環(huán)境：環(huán)境溫度：-10～45℃相對濕度：≤95%；

  13、電源：AC220V；頻率50Hz。

三、界面顯示